| Herkunftsort: | CHINA |
|---|---|
| Markenname: | TMTeck |
| Zertifizierung: | CE |
| Modellnummer: | TM260 |
| Min Bestellmenge: | 1PC |
| Preis: | Negotiation |
| Verpackung Informationen: | Karton 30*15*24cm 5kg |
| Lieferzeit: | 3-5 Arbeitstag |
| Zahlungsbedingungen: | T/T, Western Union, PAYPAL |
| Versorgungsmaterial-Fähigkeit: | Wochen 100PCS/Two |
| Messverfahren: | Induktion (Eisen) und Wirbelstrom (Nichteisen) | Gedächtnis: | 500 Daten |
|---|---|---|---|
| Passen Sie sich an an: | die Standards des LÄRMS, ISO, ASTMBS. | Messbereich: | 0 ~1250 μm, 0 bis 40μm (für Chromplatte auf Kupfer) |
| Name: | Tragbares Anstrichschichtdicke-Messgerät Tmteck Tm260 Digital passt Stärke zwei an | Schlüsselwort: | Anstrichschichtdicke-Messgerät Digital |
| Markieren: | digitales tm260 Anstrichschichtdickemessgerät,tmteck digitales Anstrichschichtdickemessgerät,tragbares tm260 Anstrichschichtdickemessgerät |
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Tragbares Anstrichschichtdicke-Messgerät TM260 Digital nimmt zwei Stärke-messende Methoden an: Induktion (Eisen) und Wirbelstrom (Nichteisen). Es kann die Stärke der antimagnetischen Beschichtung auf magnetischem Metallsubstrat und die Stärke der nicht leitfähigen Beschichtung auf antimagnetischem Metallsubstrat schnell, nondestructively und genau messen. Dieses Farbenmeter kann mit 6 optionalen Sonden für verschiedene Anwendungen ausgerüstet werden. Es ist für Feldversuche und Laborforschung passend.
Produkt-Detail-Eigenschaften
●Zwei Funktionsprinzipien werden angepasst: Induktion (Eisen) und Wirbelstrom (Nichteisen) zum von zerstörungsfreien Maßen zu nehmen
●6 Arten Sonden sind für verschiedene Anwendungen verfügbar
●Kennzeichnet zwei Arbeitsmodi: DIREKTE und BATCH& zwei messende Weisen: FAHREN Sie fort und SONDERN Sie aus
●Statistiken umfassen den Durchschnitt, die Höchst-, minimalen, Testzahlen und die Standardabweichung.
●Gedächtnis von 500 Daten
●Zwei Kalibrierverfahren für bessere Korrektur
●Integriert mit Drucker, um die Statistswerte zu drucken, wenn Sie gebraucht werden
●Anzeichen- und Fehlerwarnung der schwachen Batterie
●Hintergrundbeleuchtung für den Schirm
●Selbst- oder manuelle Abschaltung
●Passen Sie sich an die Standards des LÄRMS, ISO, ASTMBS an.
| Standardlieferung | |
| Hauptgerät | 1 |
| Sonde | 1 |
| Substrat | 1 |
| Kalibrierungsfolie | 1 |
| Ladegerät | 1 |
| Druckpapier | 1 |
| Zertifikat | 1 |
| Garantiekarte | 1 |
| Anweisungshandbuch | 1 |
| Sondenarten | F | N | |
| Messverfahren | Induktion | Wirbelstrom | |
| Messbereich | 0 μm ~1250 | 0 ~1250 μm, 0 bis 40μm | |
| Minimale Entschließung | 0.1μm | ||
| Toleranz | Nullpunktkalibrierung | ± (3%H+1) μm | ± (3%H+1.5) μm |
| H bedeutet die Stärke des geprüften Stückes | |||
| Zwei Punkte Kalibrierung | ± [μm (1~3)%H+1] | ± [μm (1~3)%H+1.5] | |
| H bedeutet die Stärke des geprüften Stückes | |||
| Messbedingung | Min.-Biegungsradius (Millimeter) | Konvexität 1,5 | Konvexität 3 |
| Testgebietdurchmesser Min. (Millimeter) | Ø7 | Ø5 | |
| Kritische Stärke des Substrates (Millimeter) | 0,5 | 0,3 | |
| Standards | LÄRM, ISO, ASTM, BS | ||
| Kalibrierung | Null und Folienkalibrierung | ||
| Schnittstelle | USB2.0 | ||
| Statistik | Zahl des Maßes, Durchschnitt, | ||
| Datengedächtnis | 500 Lesungen | ||
| Grenzen | Justierbar mit Warnung | ||
| Energie | Li-Akku | ||
| Betriebsumgebung | Temperatur: 0~40℃ | ||
| Feuchtigkeit: 20%~90% | |||
| Kein starkes Magnetfeld | |||
| Maße (Millimeter) | 215×84×42 | ||
Optionale Sonden und Zuordnungsliste
| Sondenmodell | F400 | F1 | F1/90º | F10 | N1 | F5 | |
Funktionieren | Induktion | Wirbelstrom | |||||
| Messbereich (µm) | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | μm 0 bis 1250 0 bis 40μm (für Chromplatte auf Kupfer) | 0-1250 | ||
| Entschließung des unteren Bereichs (µm) | 0,1 | 0,1 | 10 | 0,1 | 0,1 | ||
| Genauigkeit | Ein-Punkt | ± (3%H+1) | ± (3%H+10) | ± (3%H+1.5) | ± (3%H+1) | ||
Zwei-Punkt | ± [(1~3) H%+0.7] | ± [(1~3) H%+1] | ± [(1~3)%H+10] | ± [(1~3)%H+1.5] | - | ||
| Messbedingungen | Minimale Biegung des minimalen Bereichs (Millimeter) | Konvexer Körper 1 | 1,5 | Drücken Sie flach | 10 | 3 | Winkel |
| Durchmesser des minimalen Bereichs (Millimeter) | φ3 | φ7 | φ7 | φ40 | φ5 | φ7 | |
| Kritische Stärke des Substrates (Millimeter) | 0,2 | 0,5 | 0,5 | 2 | 0,3 | 0,5 | |
